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二次イオン質量分析法 第２版 /日本表面真空学会
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- 商品情報
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≪商品情報≫
著者名：日本表面真空学会
出版社名：丸善出版
発行年月：2025年05月
判型：Ａ５
ISBN：9784621311356
≪内容情報≫
"二次イオン質量分析法（SIMS）は，試料表面にイオンビームを照射し，飛び出した二次イオンの質量を検出して物質を同定し，さらに各物質の試料中での分布をイメージングする手法である．金属や半導体から高分子材料, 生体試料にも適用できる分析法として，多くの研究分野で活用されている．
25年ぶりの大改訂となる本書では，重要性の高い基礎的な内容だけでなく，目的別の応用例を大幅に拡充．これからSIMSを使い始める学生はもちろん，現場の実務者にとっても有用な手引きとなる一冊．"
著者名：日本表面真空学会
出版社名：丸善出版
発行年月：2025年05月
判型：Ａ５
ISBN：9784621311356
≪内容情報≫
"二次イオン質量分析法（SIMS）は，試料表面にイオンビームを照射し，飛び出した二次イオンの質量を検出して物質を同定し，さらに各物質の試料中での分布をイメージングする手法である．金属や半導体から高分子材料, 生体試料にも適用できる分析法として，多くの研究分野で活用されている．
25年ぶりの大改訂となる本書では，重要性の高い基礎的な内容だけでなく，目的別の応用例を大幅に拡充．これからSIMSを使い始める学生はもちろん，現場の実務者にとっても有用な手引きとなる一冊．"
