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X線反射率法入門/桜井健次

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桜井健次
講談社
ISBN:4061532960/9784061532960
発売日:2018年06月



【内容紹介】
日本初のX線反射率法に関する専門書が9年ぶりの増補改訂。原理、実験方法、データ解析法、多彩な材料への応用事例を網羅。なぜこれほど精密な解析ができるのか、どんな点に注意を払わなくてはいけないかなどについて、ユーザーの視点からていねいに解説。この1冊で機能薄膜の構造解析が自由自在に。


【本書の特徴】
・表面・界面におけるX線の全反射現象の基礎をわかりやすく説明した。
・実験方法やデータ解析法を具体例とともにていねいに解説した。
・なぜこれほど精密な解析ができるのか、どんな点に注意を払わなくてはいけないかなどについて、ユーザーの立場から詳細に解説した。
・半導体、磁性体、光学多層膜、固液界面、有機薄膜、液体表面などの応用事例を紹介し、中性子の利用についても取り上げた。

※本データはこの商品が発売された時点の情報です。

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