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走査電子顕微鏡

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丸善出版
表面分析技術選書
ISBN:4621312278/9784621312278
発売日:2025年12月



※商品画像はイメージや仮デザインが含まれている場合があります。帯の有無など実際と異なる場合があります。

【内容紹介】
電子線で試料表面を走査する走査電子顕微鏡(SEM)は、試料表面形状だけではなく、試料の元素組成や結晶方位、三次元形状など、さまざまな情報を得る手法として発展を遂げ、多くの研究・産業分野で広く用いられている.
本書は、このようにSEMの応用が広がっている状況を踏まえ初版を大幅に改訂.SEMの基礎的・理論的な説明から、分野に応じた試料の準備・前処理法や観察手法を実際の観察事例とともに解説した.さらに、データサイエンス・機械学習の応用や三次元像の構築、自動化なども、最新の実例とともに紹介している.
SEM の初心者から、応用を検討している実務者・研究者まで必携の一冊.

※本データはこの商品が発売された時点の情報です。

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